原子力顯微鏡（AFM）產(chǎn)品及廠家
全新發(fā)布的 afm-in-phenom xl 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (sem) 和原子力顯微鏡 (afm) 的優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對(duì)樣品進(jìn)行多模態(tài)（sem 及 afm 形貌、元素、機(jī)械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。
更新時(shí)間:2024-12-19
spm-9700ht作為一種全新的換代產(chǎn)品，通過(guò)新開(kāi)發(fā)的可快速響應(yīng)的ht掃描器以及軟件與控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)的優(yōu)化，成功實(shí)現(xiàn)以傳統(tǒng)設(shè)備5倍以上的速度獲取圖像數(shù)據(jù)。spm-9700ht在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強(qiáng)的測(cè)量功能，具備了卓越的信號(hào)處理能力，加上先進(jìn)的vbdf功能，數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%，可得到更高分辨率、更高質(zhì)量的觀察圖像。
更新時(shí)間:2024-12-10
dimension fastscan bio 原子力顯微鏡 （afm） 可實(shí)現(xiàn)生物動(dòng)力學(xué)的高分辨率研究，實(shí)時(shí)樣品觀測(cè)的時(shí)間分辨率高達(dá)每 3 幀。更重要的是，它同時(shí)使afm比以往更容易使用。dimension fastscan bio afm 以先進(jìn)的大
更新時(shí)間:2024-12-10
s-snom技術(shù)使用金屬鍍層的原子力（afm）探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來(lái)增強(qiáng)樣品的納米尺度區(qū)域的散射，散射信號(hào)可以在遠(yuǎn)場(chǎng)被檢測(cè)到。而這些散射信號(hào)攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區(qū)域的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)。具體而言，這些散射光的信息包括光的振幅和相位，通過(guò)適當(dāng)?shù)哪Ｐ?，這些測(cè)量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學(xué)常數(shù)（n，k）。在某些情況下，光學(xué)相位與波長(zhǎng)還提供了個(gè)與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息
更新時(shí)間:2024-12-02
工作模式：接觸模式、非接觸模式、敲擊模式標(biāo)準(zhǔn)模塊：相位、橫向力（摩擦）、力曲線、力調(diào)制、靜電力和磁力模塊選配模塊：導(dǎo)電力模式，表面電勢(shì)模塊
更新時(shí)間:2024-12-02
多功能掃描探針顯微鏡afm100 plus/afm100系統(tǒng)afm100 plus/afm100系統(tǒng)是以在研發(fā)、生產(chǎn)、教育等各種場(chǎng)合普及afm應(yīng)用為目的，并追求操作性、性及率觀察的通用型高分辨掃描探針
更新時(shí)間:2024-12-02
afm5500m是操作性和測(cè)量精度大幅提高，配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對(duì)中，測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開(kāi)發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測(cè)量精度大幅提高。并且，通過(guò)sem-afm共享坐標(biāo)樣品臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
更新時(shí)間:2024-12-02
日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡通過(guò)采用『綜合型holder flange開(kāi)合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時(shí)，免去了以往環(huán)境型spm的樣品更換后的所需的光軸調(diào)整。 也省去測(cè)試模式切換時(shí)的支架更換環(huán)節(jié)。3. 卓越的高性能采用了『swing cancel功能』，減輕了樣品的浮動(dòng)，降低了漂移。提高了納米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/
更新時(shí)間:2024-12-02
日立5500m全自動(dòng)型原子力顯微鏡afm5500m是操作性和測(cè)量精度大幅提高，配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對(duì)中，測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開(kāi)發(fā)的高精
更新時(shí)間:2024-12-02
環(huán)境多功能原子力顯微鏡afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測(cè)溫度對(duì)樣品
更新時(shí)間:2024-12-02
1000型原子力顯微鏡應(yīng)用：其應(yīng)用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等?？蓽y(cè)樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè)：高校（理工類）實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、公安刑偵和工業(yè)檢測(cè)部門。
更新時(shí)間:2024-12-02
afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測(cè)溫度對(duì)樣品表面形貌和物理特性的影響。
更新時(shí)間:2024-10-25
afm5100n除了激光檢測(cè)方式之外，全新的「自檢測(cè)懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時(shí)，大大簡(jiǎn)化了afm懸臂操作。
更新時(shí)間:2024-10-25
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內(nèi)部裝有傳感器的「自檢測(cè)懸臂」比普通的afm探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡(jiǎn)單方便。
更新時(shí)間:2024-10-25
afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測(cè)溫度對(duì)樣品表面形貌和物理特性的影響
更新時(shí)間:2024-10-25
afm5500m是操作性和測(cè)量精度大幅提高，配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對(duì)中，測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開(kāi)發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測(cè)量精度大幅提高。并且，通過(guò)sem-afm共享坐標(biāo)樣品臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
更新時(shí)間:2024-10-25
原子力顯微鏡（atomic force microscopy）是種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過(guò)掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描，探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光，后接受信號(hào)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
更新時(shí)間:2024-10-18
kla是全球半導(dǎo)體在線檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、mems、太陽(yáng)能、光電子以及其他域中有著高的市占率。p-7是kla公司的第八代探針式臺(tái)階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新，集合眾多技術(shù)優(yōu)勢(shì)。p-7建立在市場(chǎng)先的p-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了p-17技術(shù)的卓越測(cè)量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了高的性價(jià)比。p-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)
更新時(shí)間:2024-09-23
zygo zegage pro光學(xué)輪廓儀是用于3d形貌定量測(cè)試，和精密機(jī)械表面粗糙度檢測(cè)的理想非接觸式檢測(cè)工具。它工業(yè)化的設(shè)計(jì)提供快速，精確的測(cè)量方案，并且外形緊湊、性價(jià)比高，能夠放在生產(chǎn)車間工作，而不需要振動(dòng)隔離和特殊的隔離裝置。同時(shí)交互式的控制軟件mx 提供了簡(jiǎn)單而精細(xì)的圖形圖像來(lái)幫助你的加工處理。
更新時(shí)間:2024-09-23
zygo newview 9000 3d 光學(xué)輪廓儀提供了強(qiáng)大的非接觸式光學(xué)表面分析的多功能性。它可以容易和快速地測(cè)量各種表面類型，包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測(cè)量都是無(wú)損、快速、無(wú)需樣品制備的。系統(tǒng)的核心是 zygo 相干掃描干涉技術(shù)(csi)，提供了所有放大倍數(shù)下亞納米的精度，并且能夠快速測(cè)試各種樣品表面。
更新時(shí)間:2024-09-23
不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率，f20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過(guò)usb連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果?；谀衬K化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，f20適用于各種應(yīng)用。
更新時(shí)間:2024-09-23
依靠f50先進(jìn)的光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以很簡(jiǎn)單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度，測(cè)試非?？焖?，大約每能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。f50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長(zhǎng)的移動(dòng)平臺(tái)，確保能夠做成千上萬(wàn)次測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-09-23
bruker dimension® icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米域的研究者帶來(lái)了全新的afm應(yīng)用體驗(yàn)，其測(cè)試功能強(qiáng)大，操作簡(jiǎn)便易行。仍然以上應(yīng)用廣泛的af
更新時(shí)間:2024-09-23
zygo致力于保護(hù)您在verifire干涉儀的長(zhǎng)壽命期間的投資。 在全球安裝了數(shù)千套系統(tǒng)，沒(méi)有其他計(jì)量公司接近zygo的產(chǎn)品質(zhì)量和客戶滿意度記錄。質(zhì)量多功能性和生產(chǎn)力大化您的投資zygo公司：光學(xué)計(jì)量的導(dǎo)者•我們保證verifire系統(tǒng)和組件作為完整解決方案的一部分，符合我們的iso 9001注冊(cè)設(shè)施
更新時(shí)間:2024-09-23
lumina at1可以在4分鐘內(nèi)完成150毫米晶圓的掃描，對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時(shí)間:2024-09-23
lumina at2-efem可以在2分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描，對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時(shí)間:2024-09-23
lumina at2可以在3分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描，對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時(shí)間:2024-09-23
kla是全球半導(dǎo)體在線檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)大的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、mems、 太陽(yáng)能、光電子以及其他域中有著高的市占率。alpha-step" 探針式輪廓儀支持合階高度和粗度的2d及3d(d-600)輪廓掃描，以及翹曲度和應(yīng)力的2d測(cè)量。創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。
更新時(shí)間:2024-09-23
film sense 多波長(zhǎng)橢偏儀通過(guò)簡(jiǎn)單的 1 測(cè)量，可以以高的精度和精度測(cè)定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對(duì)許多樣品進(jìn)行光學(xué)常數(shù) n&k 等薄膜性質(zhì)的測(cè)量。多波長(zhǎng)橢偏儀提供了強(qiáng)大的薄膜測(cè)量功能售價(jià)只是單一波長(zhǎng)橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。film sense 偏儀非常適合在研究實(shí)驗(yàn)室教室，現(xiàn)場(chǎng)處理室，工業(yè)質(zhì)量控制等等。
更新時(shí)間:2024-09-23
原子力顯微鏡應(yīng)用：其應(yīng)用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等。可測(cè)樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè)：高校（理工類）實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、工業(yè)檢測(cè)部門。
更新時(shí)間:2024-09-19
dimension edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創(chuàng)新技術(shù)，達(dá)到了同類產(chǎn)品的zui高水平，為納米尺度的科學(xué)研究提供了高效率、高性價(jià)比的強(qiáng)大工具。
更新時(shí)間:2024-08-26
dimension fastscantm 原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)的時(shí)間,是世界上掃描速度zui快的原子力顯微鏡。
更新時(shí)間:2024-08-26
dimension icon 系列作為布魯克公司(bruker axs)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項(xiàng)行業(yè)ling先的zhuan li技術(shù)，是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。
更新時(shí)間:2024-08-26
一包10根高質(zhì)量硅蝕刻探針，用于tappingmode™和其他非接觸模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探針的改進(jìn)版本。 布魯克的新系列tesp高品質(zhì)優(yōu)質(zhì)蝕刻硅探針為tappingmode™和空氣中的非接觸模式設(shè)定了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2024-07-17
更易定位，更適合如按樣品。此型號(hào)為布魯克貼標(biāo)產(chǎn)品，同型號(hào)奧林巴斯omcl-ac240ts-r3 探針。懸臂共振頻率：70(50~90) khz（空氣中），彈性系數(shù)：2 n/m。針尖曲率半徑：7nm（典型值）al涂層。
更新時(shí)間:2024-07-17
dimension icon是dimension系列產(chǎn)品中的新款設(shè)備,它基于上應(yīng)用廣泛的afm平臺(tái)，集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)先的應(yīng)用定制及客戶反饋等于一身。這個(gè)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)從上到下的設(shè)計(jì)，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
更新時(shí)間:2024-07-17
dimension fastscantm原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2024-07-17
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