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        掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

        日本JEOL 離子切片儀
        日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過(guò)遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        日本JEOL截面樣品拋光儀
        日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺(tái),通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        日本JEOL截面樣品制備裝置
        日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺(tái),通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        日本JEOL 截面樣品拋光儀
        日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過(guò)程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過(guò)程。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        日本JEOL 軟X射線分析譜儀
        日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測(cè),并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過(guò)了wds的能量分辨率。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        日本JEOL 電子探針顯微分析儀
        日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測(cè)器,組合使用wds和eds,能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
        日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過(guò)與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
        日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒(méi)式肖特基電子槍組合,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
        日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        德Neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
        德neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國(guó)neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì),采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì),完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測(cè)量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí),由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源(thz-tds),也可以實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測(cè)量。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
        thz-neasnom太赫茲近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號(hào)空間分辨率
        更新時(shí)間:2024-12-20
        德國(guó)KSI  型 全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)
        德國(guó)ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測(cè)下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)
        更新時(shí)間:2024-12-20
        KSI 型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng)
        ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng),適用于對(duì)晶錠的無(wú)損檢測(cè),有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測(cè),晶錠的尺寸可達(dá)450mm,檢測(cè)時(shí)間短,也不需要做其它設(shè)定。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
        ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
        更新時(shí)間:2024-12-20
        德國(guó)KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
        ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時(shí)使用2只換能器
        更新時(shí)間:2024-12-20
        SEM掃描電鏡,臺(tái)式掃描電子顯微鏡
        sem掃描電鏡,臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來(lái)觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        SEM掃描電鏡,臺(tái)式掃描電子顯微鏡#2023已更新
        sem掃描電鏡,臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來(lái)觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
        更新時(shí)間:2024-12-20
        供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
        日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測(cè)器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時(shí),電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng),可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
        更新時(shí)間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
        日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測(cè)器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時(shí),電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng),可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
        更新時(shí)間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
        flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時(shí)具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
        更新時(shí)間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
        日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測(cè)器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時(shí),電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng),可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
        更新時(shí)間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
        flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時(shí)具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
        更新時(shí)間:2024-12-19
        供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
        日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn): 1. 新型
        更新時(shí)間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
        s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開(kāi)發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強(qiáng)大的自動(dòng)化功能,操作更簡(jiǎn)易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能,包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對(duì)中、自動(dòng)束流設(shè)定、 自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對(duì)比度等。 2. 在3kv低加速電壓時(shí)
        更新時(shí)間:2024-12-19
        供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
        s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺(tái)可以傾
        更新時(shí)間:2024-12-19
        韓國(guó)賽可臺(tái)式掃描電鏡4500主要功能
        table-sem (臺(tái)式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬(wàn)倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲(chǔ)存后再分析功能 4) b type : se (二
        更新時(shí)間:2024-12-17
        韓國(guó)SEC掃描電子顯微鏡采購(gòu)價(jià)格
        sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對(duì)工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
        更新時(shí)間:2024-12-17
        韓國(guó)賽可臺(tái)式掃描電鏡4500
        table-sem (臺(tái)式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬(wàn)倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲(chǔ)存后再分析功能 4) b type : se (二
        更新時(shí)間:2024-12-17
        韓國(guó)SEC掃描電子顯微鏡
        sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對(duì)工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
        更新時(shí)間:2024-12-17
        多面掃描鏡
        可實(shí)現(xiàn)大范圍、超高速、高精度與高重復(fù)性的激光光束掃描。多面掃描鏡裝置/多面轉(zhuǎn)鏡包括電機(jī)與多面鏡,多面鏡具有多個(gè)反射面,并安裝在電動(dòng)機(jī)的旋轉(zhuǎn)軸上。通過(guò)電機(jī)的旋轉(zhuǎn),多面鏡可實(shí)現(xiàn)高速旋轉(zhuǎn),從而實(shí)現(xiàn)大角度、高速的光束掃描。
        更新時(shí)間:2024-12-13
        經(jīng)濟(jì)型掃描電子顯微鏡 KYKY-EM3200系列
        產(chǎn)品說(shuō)明: kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動(dòng)控制功能 等諸多方面都進(jìn)行了改進(jìn)。主要特點(diǎn)是穩(wěn)定可靠、結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便、維護(hù)簡(jiǎn)單,是一款性價(jià)比較高的經(jīng)濟(jì)型電鏡。
        更新時(shí)間:2024-12-11
        電子掃描顯微鏡KYKY-EM6900
        類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號(hào) kyky-em6900 目鏡放大倍數(shù) n/a 物鏡放大倍數(shù) n/a 儀器放大倍數(shù) 1.5-300000x 加工定制 否
        更新時(shí)間:2024-12-11
        實(shí)用型掃描電子顯微鏡KYKY-2800
        產(chǎn)品說(shuō)明: kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國(guó)科學(xué)院在幾十年的掃描電鏡研究和生產(chǎn)基礎(chǔ)上,引用現(xiàn)代最新計(jì)算機(jī)及數(shù)字圖像技術(shù), 開(kāi)發(fā)出的高性能產(chǎn)品。該產(chǎn)品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外,新增加了各種計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制及調(diào)節(jié)功能,尤其是采用了專用圖像處理器進(jìn)行圖像分析處理,使掃描電鏡與圖像分析得到完美結(jié)合。在window
        更新時(shí)間:2024-12-11
        日本JEOL 掃描電子顯微鏡JSM-IT510 InTouchScope™
        掃描電子顯微鏡 (sem) 不僅是開(kāi)展科研工作所必不可少的工具,對(duì)于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場(chǎng)景中,用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 jsm-it510 新增的“簡(jiǎn)單 sem”功能,用戶可將 sem 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”,從而更高效、更輕松地完成 sem 觀察。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        SS-60系列掃描電子顯微鏡
        ss-60系列臺(tái)式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間?。环糯蟊堵?0 ~60,000 x,15nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測(cè)器;ss-60掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡(jiǎn)單,易于維護(hù);國(guó)產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        SS-150系列掃描電鏡
        ss-150系列臺(tái)式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間??;放大倍率30~150,000 x ;5nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測(cè)器;通過(guò)選配eds可進(jìn)行元素成份分析;ss-150系列掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡(jiǎn)單,易于維護(hù);國(guó)產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        臺(tái)式掃描電子顯微鏡
        zem15掃描速度快,信號(hào)采集帶寬10m,可以在視頻模式下流暢實(shí)時(shí)的顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作,不需對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟,聚焦消像散后可直接拍圖。主機(jī)集成高壓及控制系統(tǒng),體積小巧,便于移動(dòng),可出差攜帶,安裝無(wú)需特殊環(huán)境,只需找一張桌子,供電就可工作。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        FEI臺(tái)式掃描電鏡Phenom飛納 標(biāo)準(zhǔn)版
        第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn),適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選,也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無(wú)法滿足需求的客戶。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        FEI臺(tái)式掃描電鏡飛納(Phenom) 業(yè)版
        第六代 phenom pro 臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長(zhǎng)壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動(dòng)軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        飛納(Phenom)臺(tái)式掃描電鏡 能譜版
        加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        Phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡
        phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡
        更新時(shí)間:2024-12-10
        Phenom臺(tái)式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure
        放大倍數(shù):20000x;分辨率:優(yōu)于30nm;燈絲:1500小時(shí)ceb6燈絲抽真空時(shí)間:10;樣品移動(dòng)方式:自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)樣品定位方式:光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航樣品導(dǎo)電性要求:無(wú)需噴金,直接觀測(cè)絕緣體
        更新時(shí)間:2024-12-10
        飛納臺(tái)式掃描電鏡
        加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
        加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom ProX
        加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過(guò)改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡業(yè)版Pro
        第六代 phenom pro 臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長(zhǎng)壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動(dòng)軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure
        第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)?;诟吡炼?ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng),phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm,同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom  Pro
        第六代 phenom pro 臺(tái)式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長(zhǎng)壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動(dòng)軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
        更新時(shí)間:2024-12-10
        飛納臺(tái)式掃描電鏡Phenom Pro
        飛納掃描電鏡是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 350,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。
        更新時(shí)間:2024-12-10

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        日本性爱一二三区,色综合伊人丁香五月婷婷综合缴情,国产普通话刺激视频,伊人久久综合热线大杳蕉
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